Peen Al-Si sulamist metallograafilised pildid

 

Deformeerunud tera struktuur 99,999% Al;
Barkeri reaktiiv, polariseeritud valgus

     

Al-1% Si-valatud proov Si osakestega α-Al maatriksis;"Si Blue" etch

Al-7,12% Si, valatud, primaarsete α-Al dendriitidega ja a-Al/Si eutektikaga;"Si Blue" etch

Al -11,7% Si, valatud, primaarsete a-Al dendriitidega ja α-Al/Si eutektikaga;"Si Blue" etch

Al -12% Si, nagu valatud, peaaegu eutektika, "Si Blue" etch

AI -12% Si, valatud, peaaegu eutektiline;Wecki reaktiiv, polariseeritud valgus

Na-modifitseeritud Al - 12% Si, valatud, peaaegu eutektiline, "Si Blue" söövitus

Na-modifitseeritud Al -12% Si, valatud, eutektilise Wecki reaktiivi lähedal, polariseeritud valgus

Al - 12,9% Si, gravitatsiooniline survevalu, "Si Blue" söövitus

Al- 12,9% Si-0,04% Sr, gravitatsiooniline survevalu, "Si Blue" söövitus

Al-19,85% Si, valatud, hüpereutektiline, primaarne Si pluss eutektiline, Wecki reagent - eutektilised rakud, 200X

Al-25% Si, valatud, hüpereutektiline, primaarne Si ja α-Al/Si eutektiline, Wecki reagent

Al - 50% Si, valatud, krakitud esmane Si ja eutektiline, "Si Blue" söövitus

Polükristallilised kaksikud 99,9999% Si, valatud vesilahus 75% NaOH, Nomarski DIC

AI - SIi faasiskeem